反射透射测试：
      反射、透射这两种模式是光谱测量的基本手段。实现这两种模式的光谱测量，通常需要光谱仪、积分球（反射积分球和透射积分球）、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。
    反射/透射光谱是材料本身的一项重要光学特性，在现今工业蓬勃发展的背景下，对材料本身特性的质量控制越来越严格，从而利用光纤光谱仪进行快速准确的反射光谱/透射光谱的测量技术也开始日渐成熟。

反射背景知识：

反射率测量时，象素n上的透过率是用当前样品、参考和背景数据按下面方程计算出来的：
式中T-----------反射率
    Sample-----------样品反射强度值
    Ref-----------参考样片反射强度
    dark-----------背景数据

   使用Avantes的AvaSpec-ULS2048L系列光谱仪进行反射率测试时，一般采用光纤探头（FCR）及积分
球两种方式；
    积分球内表面是完美的漫射体，具有非常均匀的空间反射特性，反射光在内表面经过多次反射后变得十分均匀，而且光强随之衰减；具有测量稳定，重复性好，结果准确等优点。而反射探头具有测量速度快，测试灵活，无需与样品接触的特点。但是由于光纤本身的传输特性，反射探头测量精度只有1%，同时测量镜面反射时容易信号饱和；而采用反射式积分球时可以有效的避免数据的饱和及光纤晃动等带来的强度变化的影响，同时测量精度也可以达到0.1%。所以，当入射光在物体表面发生镜面反射时一般采用积分球测试，当入射光在物体表面发生漫反射，即可采用反射式积分球，又可采用反射探头。下图是分别采用积分球及反射探头的光.
1. 反射通常分为镜面反射和漫反射。当入射光在物体表面发生镜面反射，通过反射探头（FCR）测量.
透射率测量及常用配置：
透过率测量时，象素n上的透过率是用当前样品、参考和背景数据按下面方程计算出来的：
式中    T-----------透过率
        Sample-----------样品透过强度值
        Ref-----------参考样片透过强度
        dark-----------背景数据

透过率的百分比在数学上与反射率是一样的，所以同样可以用于反射实验，反射测试中ref为参考板反射强度（如果需要测量绝对反射率值，需要在式中乘以系数C，C为参考反射板在每个波长的绝对反射率值。）
    使用Avantes的AvaSpec-ULS2048L系列光谱仪进行透过率测量时，一般采用CUV-UV/VIS样品支架或
积分球两种方式

对于各种光学材料，如玻璃、塑料、晶体、薄膜等的透射比测量，通常可以采用CUV-UV/VIS 样品支架等方式进行测量，如下图，支架两端通过光纤分别接光谱仪和光源。

膜厚测试：
薄膜测量系统是专门针对半导体、材料、生物医学薄膜的实验室分析及在线监测开发的，用于测量薄

膜反射率及膜层厚度的综合测量系统。
   该系统基于白光反射及干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。可以通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜的n和k值就可以计算出它的物理厚度。
     AvaSoft-Thinfilm软件内有一个包含大部分常用材料和膜层的n值和k值的数据库。TFProbe多层膜测量软件可以测量多达5层膜的厚度和光学常数（n、k值），实现实时或在线膜厚和折射率监控。
参数指标：
 光谱范围 200~1100nm 测量速度 2 ms minimum
 膜厚范围 10nm~200μm基底厚度up to 50mm thick
 分辨率 1nm 测量精度 better than 0.25%